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SEM掃描電鏡
設備名稱:SEM掃描電鏡&EDX
設備型號:JSM-6010PLUS/LA
適用標準:GB/T 15074-2008
適用對象:產品、材料形貌觀察、元素分析
測試量級:倍率:300000X,有效像素20000X